Показ 1 - 1 результатів із 1 для пошуку '392415 Almarzouk, Kais', час виконання запиту: 0.02сек. Уточнити результати
  1. 1
    Three-beam shearing interferometer for measuring thin film thickness, surface roughness and surface figure / [mikrofilem]

    Three-beam shearing interferometer for measuring thin film thickness, surface roughness and surface figure / [mikrofilem] за авторством 392415 Almarzouk, Kais

Інструменти для пошуку: