Showing 1 - 5 results of 5 for search 'A. T. J. van Helvoort', query time: 0.02s Refine Results
  1. 1
    P. Verhoef, J.M. Leeuwen, P.W. de van Leeuw, 'Strenge wetenschappelijkheid en practische zin'. Een eeuw Nederlands centraal veterinair instituut 1904-2004

    P. Verhoef, J.M. Leeuwen, P.W. de van Leeuw, 'Strenge wetenschappelijkheid en practische zin'. Een eeuw Nederlands centraal veterinair instituut 1904-2004 by A.A.F.J. van Helvoort

    Published 2007-01-01
    Get full text
    Article
  2. 2
    P. Verhoef, J.M. Leeuwen, P.W. de van Leeuw, 'Strenge wetenschappelijkheid en practische zin'. Een eeuw Nederlands centraal veterinair instituut 1904-2004

    P. Verhoef, J.M. Leeuwen, P.W. de van Leeuw, 'Strenge wetenschappelijkheid en practische zin'. Een eeuw Nederlands centraal veterinair instituut 1904-2004 by A.A.F.J. van Helvoort

    Published 2007-01-01
    Get full text
    Article
  3. 3
    P. Verhoef, J.M. Leeuwen, P.W. de van Leeuw, 'Strenge wetenschappelijkheid en practische zin'. Een eeuw Nederlands centraal veterinair instituut 1904-2004

    P. Verhoef, J.M. Leeuwen, P.W. de van Leeuw, 'Strenge wetenschappelijkheid en practische zin'. Een eeuw Nederlands centraal veterinair instituut 1904-2004 by A.A.F.J. van Helvoort

    Published 2007-01-01
    Get full text
    Article
  4. 4
    New avenues for residual stress analysis in ultrathin atomic layer deposited free-standing membranes through release of micro-cantilevers

    New avenues for residual stress analysis in ultrathin atomic layer deposited free-standing membranes through release of micro-cantilevers by S. Burgmann, M.J. Lid, H.J.D. Johnsen, N.P. Vedvik, B. Haugen, J. Provine, A.T.J. van Helvoort, J. Torgersen

    Published 2024-02-01
    Get full text
    Article
  5. 5
    Atomic-scale 3D imaging of individual dopant atoms in an oxide semiconductor

    Atomic-scale 3D imaging of individual dopant atoms in an oxide semiconductor by K. A. Hunnestad, C. Hatzoglou, Z. M. Khalid, P. E. Vullum, Z. Yan, E. Bourret, A. T. J. van Helvoort, S. M. Selbach, D. Meier

    Published 2022-08-01
    Get full text
    Article

Search Tools: