Evaluating CMOS chip sensitivity parameters to single event upsets under influence of neutrons by the burst generation rate function অনুযায়ী Dmitry O. Titovets, Nikolay D. Kravchenko, Andrey B. Karakozov, Alexander I. Chumakov, Dmitry V. Bobrovsky

সম্পূর্ণ পাঠ পাওয়ার জন্য

The influence of high ionizing dose rate on CMOS IC radiation hardness used in da-ta transmission elements অনুযায়ী Vladislav D. Kalashnikov, Alexey Yu. Egorov, Armen V. Sogoyan, Anastasia V. Ulanova, Andrey B. Karakozov, Pavel A. Balamutov

সম্পূর্ণ পাঠ পাওয়ার জন্য