Nonlinear XUV-optical transient grating spectroscopy at the Si L2,3–edge by Bohinc, R., Pamfilidis, G., Rehault, J., Radi, P., Milne, C., Szlachetko, J., Bencivenga, F., Capotondi, F., Cucini, R., Foglia, L., Masciovecchio, C., Mincigrucci, R., Pedersoli, E., Simoncig, A., Mahne, N., Cannizzo, A., Frey, H.M., Ollmann, Z., Feurer, T., Maznev, A. A., Nelson, K., Knopp, G.

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