Showing 1 - 1 results of 1 for search 'C. R. Haufe', query time: 0.02s
Refine Results
-
1
$$\alpha $$ α -event characterization and rejection in point-contact HPGe detectors by I. J. Arnquist, F. T. Avignone, A. S. Barabash, C. J. Barton, F. E. Bertrand, E. Blalock, B. Bos, M. Busch, M. Buuck, T. S. Caldwell, Y.-D. Chan, C. D. Christofferson, P.-H. Chu, M. L. Clark, C. Cuesta, J. A. Detwiler, A. Drobizhev, T. R. Edwards, D. W. Edwins, F. Edzards, Y. Efremenko, S. R. Elliott, T. Gilliss, G. K. Giovanetti, M. P. Green, J. Gruszko, I. S. Guinn, V. E. Guiseppe, C. R. Haufe, R. J. Hegedus, R. Henning, D. Hervas Aguilar, E. W. Hoppe, A. Hostiuc, I. Kim, R. T. Kouzes, A. M. Lopez, J. M. López-Castaño, E. L. Martin, R. D. Martin, R. Massarczyk, S. J. Meijer, S. Mertens, J. Myslik, T. K. Oli, G. Othman, W. Pettus, A. W. P. Poon, D. C. Radford, J. Rager, A. L. Reine, K. Rielage, N. W. Ruof, B. Saykı, S. Schönert, M. J. Stortini, D. Tedeschi, R. L. Varner, S. Vasilyev, J. F. Wilkerson, M. Willers, C. Wiseman, W. Xu, C.-H. Yu, B. X. Zhu
Published 2022-03-01
Article