Sufficient Scope in Current Aircraft Technology Developments? by Alexander R.C. de Haan

Get full text

De cost gaet voor de baet by J. A. C. De Haan, N. Terra

Get full text

Measuring performance at the supply chain level: the role of the chain director by Job A.C. De Haan, Macarena Sacristán-Díaz

Get full text

Blending Hard and Soft Science: the Follow-the-Technology Approach to Catalyzing and Evaluating Technology Change by Boru Douthwaite, Nicoline C. de Haan, Victor Manyong, Dyno Keatinge

Get full text

Special Editorial Issue EJTIR by Alexander R.C. de Haan, Odette A.W.T. van de Riet

Get full text

The association between viral load and concurrent human papillomavirus infection at the genital and anal sites of young women and the impact of vaccination by Kahren van Eer, Ihsane Laâbi, Birgit H.B. van Benthem, Renske D.M. Steenbergen, Audrey J. King, D. Adema, R. Buist-Arkema, A. Beerens, D. Luijt, S. Meijer, J. Schirm, M. Peeters, J. Rossen, H. Verbakel, P. van Esch, J. Verweij, A. van der Eijk, R. Huisman, C. Kerkhof, H. Korff, M. Schutten, J. Velzing, F. Verduyn-Lunel, S. Lakbiach, P. van Rosmalen, R. Schuurman, E. Doorn, L. Masthoff, E. Pannekoek, V. Sigurdsson, D. Abma, K. Adams, S. Bruisten, I. Linde, P. Oostvogel, C. Touwen, W. Vermeulen, A. Brink, J. Nelissen, P. Wolffs, N. Duijvendijk, P. Schneeberger, M. Dinnissen van Poppel, W. Melchers, Y. Poort, M.Hooghiemstra Izore, H. Huisman, J. Weel, F. Bosma, F. Geeraedts, I. Polman, P.van Goor Isala, M. Wolfhagen, C. de Mooij, E. van Koolwijk, M. Peters, C. Swanink, R. Tiemessen, T. van Zwet, J. Janssen, M. Pelsers, W. de Waal, G. Aalfs, J. Kiewiet, P. Sanders, H. van Buel- Bruins, C. van Bokhoven-Rombouts, P. Cornelissen, M. Kersten, C. van Ruitenbeek, I. Molenaar, F. Verduyn-Lunel, S. Lakbiach, P. van Rosmalen, R. Schuurman, E. Doorn, L. Masthoff, E. Pannekoek, V. Sigurdsson, M. Bugter, H. Götz, M. Illidge-Onder de Linden, M. Mattijssen, J. Stam, E. Swaders, F. de Groot, F. Postma, E. Brouwers, A. Niekamp, M. Smit, A. Botraby, D. Bukasa, C. de Haan, P. Hut-van Vliet, T. Taconis, M. de Graas, I. Hondelink, C. Kampman, A. Gelissen-Hansen, I. de Koning, H. van Kruchten, M. van de Pas, H. Fennema, T. Heijman, A. Hogewoning, A. van Leeuwen, M. van Rooijen, F. Neienhuijsen, M. Pelgrim

Get full text