Отображение 1 - 1 результаты of 1 для поиска 'Ekhi Zugasti', время запроса: 0.02сек. Отмена результатов
  1. 1
    A Methodology for Advanced Manufacturing Defect Detection through Self-Supervised Learning on X-ray Images

    A Methodology for Advanced Manufacturing Defect Detection through Self-Supervised Learning on X-ray Images по Eneko Intxausti, Danijel Skočaj, Carlos Cernuda, Ekhi Zugasti

    Опубликовано 2024-03-01
    Полный текст
    Статья

Инструменты поиска: