Charge lifetime improvement of the Continuous Electron Beam Accelerator Facility photogun with a biased anode Tekijä J. T. Yoskowitz, G. A. Krafft, G. Palacios-Serrano, S. A. K. Wijethunga, J. Grames, J. Hansknecht, C. Hernandez-Garcia, M. Poelker, M. L. Stutzman, R. Suleiman, C. A. Valerio-Lizarraga, S. B. Van Der Geer

Hae kokoteksti

The Continuous Electron Beam Accelerator Facility at 12 GeV Tekijä P. A. Adderley, S. Ahmed, T. Allison, R. Bachimanchi, K. Baggett, M. BastaniNejad, B. Bevins, M. Bevins, M. Bickley, R. M. Bodenstein, S. A. Bogacz, M. Bruker, A. Burrill, L. Cardman, J. Creel, Y.-C. Chao, G. Cheng, G. Ciovati, S. Chattopadhyay, J. Clark, W. A. Clemens, G. Croke, E. Daly, G. K. Davis, J. Delayen, S. U. De Silva, M. Diaz, R. Dickson, L. Doolittle, D. Douglas, M. Drury, E. Feldl, J. Fischer, A. Freyberger, V. Ganni, R. L. Geng, C. Ginsburg, J. Gomez, J. Grames, J. Gubeli, J. Guo, F. Hannon, J. Hansknecht, L. Harwood, J. Henry, C. Hernandez-Garcia, T. Hiatt, D. Higinbotham, S. Higgins, A. S. Hofler, J. Hogan, C. Hovater, A. Hutton, C. Jones, K. Jordan, M. Joyce, R. Kazimi, M. Keesee, M. J. Kelley, C. Keppel, A. Kimber, L. King, P. Kjeldsen, P. Kneisel, J. Kowal, G. A. Krafft, G. Lahti, T. Larrieu, R. Lauze, C. Leemann, R. Legg, R. Li, F. Lin, D. Machie, J. Mammosser, K. Macha, K. Mahoney, F. Marhauser, B. Mastracci, J. Matalevich, J. McCarter, M. McCaughan, L. Merminga, R. Michaud, V. Morozov, C. Mounts, J. Musson, R. Nelson, W. Oren, R. B. Overton, G. Palacios-Serrano, H.-K. Park, L. Phillips, S. Philip, F. Pilat, T. Plawski, M. Poelker, P. Powers, T. Powers, J. Preble, T. Reilly, R. Rimmer, C. Reece, H. Robertson, Y. Roblin, C. Rode, T. Satogata, D. J. Seidman, A. Seryi, A. Shabalina, I. Shin, C. Slominski, R. Slominski, M. Spata, D. Spell, J. Spradlin, M. Stirbet, M. L. Stutzman, S. Suhring, K. Surles-Law, R. Suleiman, C. Tennant, H. Tian, D. Turner, M. Tiefenback, O. Trofimova, A.-M. Valente, H. Wang, Y. Wang, K. White, C. Whitlatch, T. Whitlatch, M. Wiseman, M. J. Wissman, G. Wu, S. Yang, B. Yunn, S. Zhang, Y. Zhang

Hae kokoteksti