Wide-Band Optical Fibre System for Investigation of MEMS and NEMS Deflection by Orłowska Karolina, Świątkowski Michał, Kunicki Piotr, Słupski Piotr, Sankowska Anna, Sankowska Anna, Sankowska Anna, Sankowska Anna, Gotszalk Teodor

Get full text

ARMScope – the versatile platform for scanning probe microscopy systems by Świadkowski Bartosz, Piasecki Tomasz, Rudek Maciej, Świątkowski Michał, Gajewski Krzysztof, Majstrzyk Wojciech, Babij Michał, Dzierka Andrzej, Gotszalk Teodor

Get full text

A method of magnetic field measurement in a scanning electron microscope using a microcantilever magnetometer by Orłowska Karolina, Mognaschi Maria E., Kwoka Krzysztof, Piasecki Tomasz, Kunicki Piotr, Sierakowski Andrzej, Majstrzyk Wojciech, Podgórni Arkadiusz, Pruchnik Bartosz, di Barba Paolo, Gotszalk Teodor

Get full text