A mostrar 1 - 2 resultados de 2 para a pesquisa 'Huang, Maggie Y. M.', tempo de pesquisa: 0.02seg
Refinar resultados
-
1
-
2
Evidence of ultra-low-k dielectric material degradation and nanostructure alteration of the Cu/ultra-low-k interconnects in time-dependent dielectric breakdown failure Por Lam, Jeffrey C. K., Huang, Maggie Y. M., Ng, Tsu Hau, Mohammed Khalid Dawood, Zhang, Fan, Du, Anyan, Sun, Handong, Shen, Zexiang, Mai, Zhihong
Publicado em 2013
Obter o texto integral
Journal Article