Zobrazuji výsledky 1 - 1 z 1 pro vyhledávání 'Ju-Won Yeon', doba hledání: 0,03 s. Upřesnit hledání
  1. 1
    Low-Temperature Deuterium Annealing for HfO₂/SiO₂ Gate Dielectric in Silicon MOSFETs

    Low-Temperature Deuterium Annealing for HfO₂/SiO₂ Gate Dielectric in Silicon MOSFETs Autor Tae-Hyun Kil, Ju-Won Yeon, Hyo-Jun Park, Moon-Kwon Lee, Eui-Cheol Yun, Min-Woo Kim, Sang-Min Kang, Jun-Young Park

    Vydáno 2024-01-01
    Získat plný text
    Článek

Vyhledávací nástroje: