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In-beam γ-ray spectroscopy of 38,40,42Si by Matsushita M., Takeuchi S., Aoi N., Doornenbal P., Lee J., Li K., Motobayashi T., Scheit H., Steppenbeck D., Wang H., Baba H., Bazin D., Càceres L., Crawford H., Fallon P., Gernhäuser R., Gibelin J., Go S., Grévy S., Hinke C., Hoffman C. R., Hughes R., Ideguchi E., Ieki K., Jenkins D., Kobayashi N., Kondo Y., Krücken R., Le Bleis T., Lee G., Matta A., Michimasa S., Nakamura T., Ota S., Petri M., Sako T., Sakurai H., Shimoura S., Steiger K., Takahashi K., Takechi M., Togano Y., Winkler R., Yoneda K.
Published 2014-03-01
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