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Radiopharmaceuticals for imaging and therapy. von Faulkner, S, Long, N
Veröffentlicht 2011Journal article -
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Automated rapid thermal imaging systems technology von Phan, Long N., 1976-
Veröffentlicht 2012
Abschlussarbeit -
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Collision avoidance via laser rangefinding von Phan, Long N., 1976-
Veröffentlicht 2013
Abschlussarbeit -
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Novel imaging chelates for drug discovery von Stasiuk, G, Faulkner, S, Long, N
Veröffentlicht 2012Journal article -
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Novel imaging chelates for drug discovery. von Stasiuk, G, Faulkner, S, Long, N
Veröffentlicht 2012Journal article -
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ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING von Czernuszka, J, Long, N, Hirsch, P
Veröffentlicht 1991Conference item -
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ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING von Czernuszka, J, Long, N, Hirsch, P
Veröffentlicht 1991Journal article -
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HIGH-RESOLUTION MICROCHEMISTRY AND STRUCTURE OF GRAIN-BOUNDARIES IN BULK Y1BA2CU3O7-X von Romano, L, Wilshaw, P, Long, N, Grovenor, C
Veröffentlicht 1989Journal article -
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THE CHEMISTRY AND PROPERTIES OF GRAIN-BOUNDARIES IN CHEMICALLY THINNED Y1BA2CU3O7-X von Romano, L, Wilshaw, P, Long, N, Grovenor, C
Veröffentlicht 1989Journal article -
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Effects of surface relaxation on electron channelling contrast images of misfit dislocations von Wilkinson, A, Hirsch, P, Czernuszka, J, Long, N
Veröffentlicht 1994Conference item -
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ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING (ECCI) OF DISLOCATIONS IN BULK SPECIMENS von Czernuszka, J, Long, N, Boyes, E, Hirsch, P
Veröffentlicht 1991Conference item -
12
IMAGING OF DISLOCATIONS USING BACKSCATTERED ELECTRONS IN A SCANNING ELECTRON-MICROSCOPE von Czernuszka, J, Long, N, Boyes, E, Hirsch, P
Veröffentlicht 1990Journal article -
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ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING OF DEFECTS IN SEMICONDUCTORS von Wilkinson, A, Hirsch, P, Czernuszka, J, Long, N
Veröffentlicht 1993Conference item -
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Effect of mechanical loadings on two unequal slanted cracks length in bi-materials plate von Hamzah, K. B., Nik Long, N. M. A.
Veröffentlicht 2022Artikel -
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ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING OF INTERFACIAL DEFECTS IN STRAINED SILICON-GERMANIUM LAYERS ON SILICON von Wilkinson, A, Anstis, G, Czernuszka, J, Long, N, Hirsch, P
Veröffentlicht 1993Journal article -
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POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE AND STEM ANALYSIS OF THE MICROCHEMISTRY OF GAINAS/INP QUANTUM WELLS von Liddle, J, Long, N, Norman, A, Cerezo, A, Grovenor, C
Veröffentlicht 1989Conference item -
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