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Extracting information from partially depleted Si detectors with digital sampling electronics by Pastore G., Pasquali G., Le Neindre N., Ademard G., Barlini S., Bini M., Bonnet E., Borderie B., Bougault R., Casini G., Chbihi A., Cinausero M., Dueñas J.A., Edelbruck P., Frankland J.D., Gramegna F., Gruyer D., Kordyasz A., Kozik T., Lopez O., Marchi T., Morelli L., Olmi A., Ordine A., Pârlog M., Piantelli S., Poggi G., Rivet M.-F., Rosato E., Salomon F., Spadaccini G., Stefanini A.A., Valdré S., Vient E., Twaróg T., Alba R., Maiolino C., Santonocito D.

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