Atomic-scale study of the amorphous-to-crystalline phase transition mechanism in GeTe thin films von R. Mantovan, R. Fallica, A. Mokhles Gerami, T. E. Mølholt, C. Wiemer, M. Longo, H. P. Gunnlaugsson, K. Johnston, H. Masenda, D. Naidoo, M. Ncube, K. Bharuth-Ram, M. Fanciulli, H. P. Gislason, G. Langouche, S. Ólafsson, G. Weyer

Volltext