Atomic-scale study of the amorphous-to-crystalline phase transition mechanism in GeTe thin films 由 R. Mantovan, R. Fallica, A. Mokhles Gerami, T. E. Mølholt, C. Wiemer, M. Longo, H. P. Gunnlaugsson, K. Johnston, H. Masenda, D. Naidoo, M. Ncube, K. Bharuth-Ram, M. Fanciulli, H. P. Gislason, G. Langouche, S. Ólafsson, G. Weyer

獲取全文