Zobrazuji výsledky
1 - 1
z
1
pro vyhledávání '
Sachs, Emanuel Michael
'
Přeskočit na obsah
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jazyk
Vše
Název
Autor
Téma
Signatura
ISBN/ISSN
Tag
Hledat
Pokročilé
Autor
Sachs, Emanuel Michael
Zobrazuji výsledky
1 - 1
z
1
pro vyhledávání '
Sachs, Emanuel Michael
'
, doba hledání: 0,02 s.
Upřesnit hledání
Seřadit podle
Relevance
Podle data sestupně
Podle data vzestupně
Signatury
Autor
Název
1
Crack detection in crystalline silicon solar cells using dark-field imaging
Autor
Wieghold, Sarah
,
Morishige, Ashley Elizabeth
,
Meyer, Luke
,
Buonassisi, Anthony
,
Sachs, Emanuel Michael
Vydáno 2018
Získat plný text
Získat plný text
Získat plný text
Získat plný text
Článek
Vyhledávací nástroje:
RSS
Poslat e-mailem