BEOL Process Effects on ePCM Reliability by A. Redaelli, A. Gandolfo, G. Samanni, E. Gomiero, E. Petroni, L. Scotti, A. Lippiello, P. Mattavelli, J. Jasse, D. Codegoni, A. Serafini, R. Ranica, C. Boccaccio, J. Sandrini, R. Berthelon, J.-C. Grenier, O. Weber, D. Turgis, A. Valery, S. Del Medico, V. Caubet, J.-P. Reynard, D. Dutartre, L. Favennec, A. Conte, F. Disegni, M. De Tomasi, A. Ventre, M. Baldo, D. Ielmini, A. Maurelli, P. Ferreira, F. Arnaud, F. Piazza, P. Cappelletti, R. Annunziata, R. Gonella

Get full text