Zobrazuji výsledky 1 - 2 z 2 pro vyhledávání 'Yu, Linwei', doba hledání: 0,02 s.
Upřesnit hledání
-
1
-
2
Conductive-probe atomic force microscopy characterization of silicon nanowire Autor Yu Linwei, Cabarrocas Pere, Perraud Simon, Rouvière Emmanuelle, Celle Caroline, Mouchet Céline, Simonato Jean-Pierre, Alvarez José, Ngo Irène, Gueunier-Farret Marie-Estelle, Kleider Jean-Paul
Vydáno 2011-01-01
Článek