Transmission electron microscopy of silicon VLSI circuits and structures /

Transmission electron microscopy of silicon VLSI circuits and structures /

16

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ: Marcus, R. B. (Robert B.), Sheng, T. T.
Ձևաչափ:
Հրապարակվել է: New York: John Wiley, 1983
Խորագրեր:
Integrated circuits
Electron microscopy
Transmission electron microscopes
Նկարագրություն
Ամփոփում:16

Նմանատիպ նյութեր