Lifetime in semiconductors : an apparatus for the measurement of carrier liftmen in silicon /

Lifetime in semiconductors : an apparatus for the measurement of carrier liftmen in silicon /

40

Opis bibliograficzny
Główni autorzy: 269176 Rose, F. W. G., Sandiford, D. J., Williams, I.
Format:
Wydane: Rugby, England : British Thomson - Houston, Research Laboratory, (n.d.)
Hasła przedmiotowe:
Silicon
Semiconductors

Podobne zapisy