Kajian bahan menggunakan mikroskopi imbasan elektron (SEM)) dan memahami penggunaan kontras daya dalam mikroskopi daya atom (AFM) /
Project Paper (Sarjana Muda Sains (Kimia Industri)) - Universiti Teknologi Malaysia, 2002
| Main Author: | |
|---|---|
| Format: | |
| Language: | may |
| Published: |
Skudai : Universiti Teknologi Malaysia,
2002
|
| Subjects: |
| _version_ | 1796687056297000960 |
|---|---|
| author | 377312 Mohd. Bakri Bakar |
| author_facet | 377312 Mohd. Bakri Bakar |
| author_sort | 377312 Mohd. Bakri Bakar |
| collection | OCEAN |
| description | Project Paper (Sarjana Muda Sains (Kimia Industri)) - Universiti Teknologi Malaysia, 2002 |
| first_indexed | 2024-03-04T22:50:49Z |
| format | |
| id | KOHA-OAI-TEST:207213 |
| institution | Universiti Teknologi Malaysia - OCEAN |
| language | may |
| last_indexed | 2024-03-04T22:50:49Z |
| publishDate | 2002 |
| publisher | Skudai : Universiti Teknologi Malaysia, |
| record_format | dspace |
| spelling | KOHA-OAI-TEST:2072132020-12-19T17:05:58ZKajian bahan menggunakan mikroskopi imbasan elektron (SEM)) dan memahami penggunaan kontras daya dalam mikroskopi daya atom (AFM) / 377312 Mohd. Bakri Bakar Skudai : Universiti Teknologi Malaysia,2002mayProject Paper (Sarjana Muda Sains (Kimia Industri)) - Universiti Teknologi Malaysia, 200242FSLScanning electron microscopyAtomic force microscopy |
| spellingShingle | Scanning electron microscopy Atomic force microscopy 377312 Mohd. Bakri Bakar Kajian bahan menggunakan mikroskopi imbasan elektron (SEM)) dan memahami penggunaan kontras daya dalam mikroskopi daya atom (AFM) / |
| title | Kajian bahan menggunakan mikroskopi imbasan elektron (SEM)) dan memahami penggunaan kontras daya dalam mikroskopi daya atom (AFM) / |
| title_full | Kajian bahan menggunakan mikroskopi imbasan elektron (SEM)) dan memahami penggunaan kontras daya dalam mikroskopi daya atom (AFM) / |
| title_fullStr | Kajian bahan menggunakan mikroskopi imbasan elektron (SEM)) dan memahami penggunaan kontras daya dalam mikroskopi daya atom (AFM) / |
| title_full_unstemmed | Kajian bahan menggunakan mikroskopi imbasan elektron (SEM)) dan memahami penggunaan kontras daya dalam mikroskopi daya atom (AFM) / |
| title_short | Kajian bahan menggunakan mikroskopi imbasan elektron (SEM)) dan memahami penggunaan kontras daya dalam mikroskopi daya atom (AFM) / |
| title_sort | kajian bahan menggunakan mikroskopi imbasan elektron sem dan memahami penggunaan kontras daya dalam mikroskopi daya atom afm |
| topic | Scanning electron microscopy Atomic force microscopy |
| work_keys_str_mv | AT 377312mohdbakribakar kajianbahanmenggunakanmikroskopiimbasanelektronsemdanmemahamipenggunaankontrasdayadalammikroskopidayaatomafm |