Pencirian membran asimetrik polisulfona menggunakan mikroskopi imbasan elektron (SEM) dan spektrometer infra merah transformasi fourier (FTIR) /
Project Paper (Sarjana Muda Sains Serta Pendidikan (Kimia)) - Universiti Teknologi Malaysia, 2003
Main Author: | 242930 Hafiza Abdul Hamid |
---|---|
Format: | |
Language: | may |
Published: |
Skudai : Universiti Teknologi Malaysia,
2003
|
Subjects: |
Similar Items
-
Kajian bahan menggunakan mikroskopi imbasan elektron (SEM)) dan memahami penggunaan kontras daya dalam mikroskopi daya atom (AFM) /
by: 377312 Mohd. Bakri Bakar
Published: (2002) -
Mikroskopi elektron dan analisis /
by: 262434 Goodhew, Peter J., et al.
Published: (2007) -
Keupayaan bagi spektrometer radioisotop pendaflour sinar-x untuk penganalisaan unsur/
by: 248214 Nor Ashikin Mohd Kasim -
Kertaskerja Seminar Mikroskop Elektron Imbasan (SEM), 1988, Kuala Lumpur
by: Seminar Mikroskop Elektron Imbasan (SEM) (1988 : Kuala Lumpur)
Published: (1988) -
Spektrometer pendarflour sinar-x sebaran tenaga menggunakan sasaran sekunder /
by: 462786 Misbah Hassan
Published: (1996)