Proceedings of the International Conference on Defects in Semiconductors/

Proceedings of the International Conference on Defects in Semiconductors/

40

מידע ביבליוגרפי
Main Authors: International Conference on Defects in Semiconductors (16th : 1991 : Bethlehem, Pennsylavania), Davies, Gordon, Gary, G., Stavola, Michael
פורמט:
יצא לאור: Zurich : Trans Tech Pub, 1992
נושאים:
Semiconductors
Semiconductor doping

פריטים דומים