| Summary: | Sel ujian adalah mustahak dalam dunia kejuruteraan gelombang mikro untuk menguji komponen dan alat-alat elektronik sebelum alat-alat tersebutdigunakan secara praktikal. Walaubagaimanapun, sel-sel ujian yang sediaada tidak dapat memenuhi kehendak pengguna kerana mereka hanya bolehmengoperasikannya dalam lingkungan frekuensi 150 MHz dan sel ujian tersebutpula bersaiz besar. Oleh yang demikian, tesis ini mengkaji kemungkinan sel-sel ujian yang beroperasi pada frekuensi yang lebih tinggi dalam saiz fizikal yang lebih kecil dilakukan. Sel tersebut, yang berdasarkan pada medanlintang electromagnetik (TEM), membolehkan pereka memperolehi taburanmedan elektrik yang rata pada bahagian ujian hendak dilakukan. Satu siriujian stimulasi komputer telah dilakukan untuk mengkaji taburan medanelektrik tersebut pada keadaan-keadaan yang berlainan. Akhir sekali, satubentuk sel ujian termasuk permitiviti, ketebalan bahan dielektrik danfrekuensi yang sesuai untuk sel ujian dicadangkan.
|
|---|