Penentuan nilai faktor keunggulan dan ketinggian sawar diod schottky menggunakan kaedah pengukuran I-V dan C-V /
Project Paper (Sarjana Muda Sains (Fizik Bahan)) - Universiti Teknologi Malaysia, 2004
Main Authors: | 194006 Mohamad Amiruddin Mohamad Nor, Mohamad Khairi Saidin,lcsupervisor, Fakulti Sains |
---|---|
Format: | |
Language: | may |
Published: |
2004
|
Similar Items
-
Kesan asid dan masa rendaman dalam mempengaruhi ketinggian sawar schottky /
by: 399128 Lee, Wee Pin, et al.
Published: (2001) -
Diod schottky :pengukuran arus (I) melawan voltan (V) untuk n-Si dengan pelbagai logam /
by: 192249 Choo, Fong Yee, et al.
Published: (2004) -
Diod Schottky : silikon jenis - n : pengukuran kapasitans terhadap voltan /
by: 448787 Viknesh Balan, et al.
Published: (2003) -
Pengukuran sawar schottky untuk n-Si dengan berbagai logam /
by: 415961 Siti Rahmah Abdul Karim
Published: (1996) -
Analysis of I-V and C-V characteristics of schottky diode /
by: 508032 Nurmunirah Muhamad Fadilah,ld1986-, et al.
Published: (2008)