Агуулга руу алгасах
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Хэл сонгох
Бүх талбарууд
Гарчиг
Зохиогч
Сэдэв
Зохиогчийн тэмдэгт
ISBN/ISSN
Шошго
Хайх
Дэлгэрэнгүй
Structural dependence of annea...
Үүнийг ишлэх
Үүнийг мессежээр илгээх
Үүнийг цахим шуудангаар илгээх
Хэвлэх
Бүртгэлийг экспортлох
RefWorks руу экспортлох
EndNoteWeb руу экспортлох
EndNote руу экспортлох
Байнгын холбоос
Structural dependence of annealing temperature and thickness ratio in SnS thin films synthesized by encapsulated sulfurization /
40
Номзүйн дэлгэрэнгүй
Үндсэн зохиолчид:
235319 Samsudi Sakrani
,
Seminar Penyelidikan dan Pengajian Siswazah (1995 : Skudai)
Формат:
Нөхцлүүд:
Thin films
Түр хойшлуулсан зүйлс
Тодорхойлолт
Ижил төстэй зүйлс
Ажилтнуудыг харах
Ижил төстэй зүйлс
SnS thin films prepared by encapsulated sulfurization
-н: Sakrani, Samsudi, зэрэг
Хэвлэсэн: (1996)
Electrodeposition and characterization of SnS thin films /
-н: Mishra, K.
Antireflection coatings / [mikrofilem]
-н: 235319 Samsudi Sakrani
Kajian sifat dielektrik saput tipis timah selenida /
-н: 359945 Sabar Derita Hutagalung, зэрэг
Structural studies of antimony-doped tin selenide (SnSe:Sb) thin films /
-н: 235319 Samsudi Sakrani, зэрэг