Sample preparation and hall effect measurement for N-type and P-type silicons /

Project paper (Sarjana Muda Sains (Fizik Industri)) - Universiti Teknologi Malaysia, 2009

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς: 505569 Lai, Cing Xin, Muhammad Zaki Yaacob, Fakulti Sains
Μορφή:
Γλώσσα:eng
Έκδοση: 2009