Μετάβαση στο περιεχόμενο
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Γλώσσα
Όλα τα πεδία
Τίτλος
Συγγραφέας
Θέμα
Ταξιθετικός Αριθμός
ISBN/ISSN
Ετικέτα
Αναζήτηση
Σύνθετη
Sample preparation and hall ef...
Εμφάνιση παραπομπής
Αποστολή με SMS
Αποστολή με email
Εκτύπωση
Αποθήκευση
Αποθήκευση σε RefWorks
Αποθήκευση σε EndNoteWeb
Αποθήκευση σε EndNote
Μόνιμος σύνδεσμος
Sample preparation and hall effect measurement for N-type and P-type silicons /
Project paper (Sarjana Muda Sains (Fizik Industri)) - Universiti Teknologi Malaysia, 2009
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς:
505569 Lai, Cing Xin
,
Muhammad Zaki Yaacob
,
Fakulti Sains
Μορφή:
Γλώσσα:
eng
Έκδοση:
2009
Τεκμήρια
Περιγραφή
Παρόμοια τεκμήρια
Λεπτομερής προβολή
Παρόμοια τεκμήρια
Sample preparation and hall effect measurement for N-type gallium arsenide (GaAs) /
ανά: Nor Hishamuddin Ab. Latif, 1989-, κ.ά.
Έκδοση: (2012)
A study of annealing effect on contact resistance of aluminium film on P-type silicon /
ανά: 178776 Teoh, Chin Hong, κ.ά.
Έκδοση: (2004)
Preparation of P-N junction diode using alloy method /
ανά: Khairul Ariffin Muhammad, 1988-, κ.ά.
Έκδοση: (2010)
Determination of carrier concentration of n type silicon /
ανά: Nur Alleyna Farhana Mohd. Naim, 1986-, κ.ά.
Studies Of The Effect Of Post Deposition Annealing To The Ceo2 Thin Film On P-Type Silicon And N-Type Silicon Carbide Substrates
ανά: Chuah, Soo Kiet
Έκδοση: (2011)