Three-beam shearing interferometer for measuring thin film thickness, surface roughness and surface figure / [mikrofilem]

Thesis (PhD) - University of Arizona, 1982

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur:	392415 Almarzouk, Kais
Formaat:
Onderwerpen:	Interferometers Laser interferometers Physics

Omschrijving
Samenvatting:	Thesis (PhD) - University of Arizona, 1982

Gelijkaardige items