185978 Backenstoss, G. Evaluation of the surface concentration of diffused layers in silicon.
Style de citation Chicago (17e éd.)185978 Backenstoss, Gerhard. Evaluation of the Surface Concentration of Diffused Layers in Silicon.
Style de citation MLA (9e éd.)185978 Backenstoss, Gerhard. Evaluation of the Surface Concentration of Diffused Layers in Silicon.
Attention : ces citations peuvent ne pas être correctes à 100%.