X-ray diffraction studies on silicon nanostructure thin films : (review paper) /

40

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς: 445636 Yussof Wahab, Magentharau Adin Navina, Mohd. Nor Yusof, Annual Fundamental Science Seminar (2005 : Johor)
Μορφή:
Γλώσσα:eng
Έκδοση: Skudai : Universiti Teknologi Malaysia, 2005
Θέματα: