Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents /

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক:	Foster, A. (Adam Stuart), 1975-, Hofer, Werner, 1960-
বিন্যাস:
ভাষা:	eng
প্রকাশিত:	New York, NY : Springer Science+Business, 2006
বিষয়গুলি:	Scanning probe microscopy

অনুরূপ উপাদানগুলি