Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents /

Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents /

42

Podrobná bibliografie
Hlavní autoři: Foster, A. (Adam Stuart), 1975-, Hofer, Werner, 1960-
Médium:
Jazyk:eng
Vydáno: New York, NY : Springer Science+Business, 2006
Témata:
Scanning probe microscopy

Podobné jednotky