Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents /
42
Prif Awduron: | , |
---|---|
Fformat: | |
Iaith: | eng |
Cyhoeddwyd: |
New York, NY : Springer Science+Business,
2006
|
Pynciau: |
42
Prif Awduron: | , |
---|---|
Fformat: | |
Iaith: | eng |
Cyhoeddwyd: |
New York, NY : Springer Science+Business,
2006
|
Pynciau: |