Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents /

Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents /

42

Xehetasun bibliografikoak
Egile Nagusiak: Foster, A. (Adam Stuart), 1975-, Hofer, Werner, 1960-
Formatua:
Hizkuntza:eng
Argitaratua: New York, NY : Springer Science+Business, 2006
Gaiak:
Scanning probe microscopy

Antzeko izenburuak