Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents /

Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents /

42

Bibliografiset tiedot
Päätekijät: Foster, A. (Adam Stuart), 1975-, Hofer, Werner, 1960-
Aineistotyyppi:
Kieli:eng
Julkaistu: New York, NY : Springer Science+Business, 2006
Aiheet:
Scanning probe microscopy

Samankaltaisia teoksia