Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents /
42
Príomhchruthaitheoirí: | , |
---|---|
Formáid: | |
Teanga: | eng |
Foilsithe / Cruthaithe: |
New York, NY : Springer Science+Business,
2006
|
Ábhair: |
42
Príomhchruthaitheoirí: | , |
---|---|
Formáid: | |
Teanga: | eng |
Foilsithe / Cruthaithe: |
New York, NY : Springer Science+Business,
2006
|
Ábhair: |