Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents /

Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents /

42

מידע ביבליוגרפי
Main Authors: Foster, A. (Adam Stuart), 1975-, Hofer, Werner, 1960-
פורמט:
שפה:eng
יצא לאור: New York, NY : Springer Science+Business, 2006
נושאים:
Scanning probe microscopy

פריטים דומים