Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents /

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ:	Foster, A. (Adam Stuart), 1975-, Hofer, Werner, 1960-
Ձևաչափ:
Լեզու:	eng
Հրապարակվել է:	New York, NY : Springer Science+Business, 2006
Խորագրեր:	Scanning probe microscopy

Նմանատիպ նյութեր