Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents /
42
Autori principali: | , |
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Natura: | |
Lingua: | eng |
Pubblicazione: |
New York, NY : Springer Science+Business,
2006
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Soggetti: |
42
Autori principali: | , |
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Lingua: | eng |
Pubblicazione: |
New York, NY : Springer Science+Business,
2006
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