Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents /

Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents /

42

Bibliografische gegevens
Hoofdauteurs: Foster, A. (Adam Stuart), 1975-, Hofer, Werner, 1960-
Formaat:
Taal:eng
Gepubliceerd in: New York, NY : Springer Science+Business, 2006
Onderwerpen:
Scanning probe microscopy

Gelijkaardige items