Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents /

Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents /

42

Opis bibliograficzny
Główni autorzy: Foster, A. (Adam Stuart), 1975-, Hofer, Werner, 1960-
Format:
Język:eng
Wydane: New York, NY : Springer Science+Business, 2006
Hasła przedmiotowe:
Scanning probe microscopy

Podobne zapisy