Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents /
42
Главные авторы: | , |
---|---|
Формат: | |
Язык: | eng |
Опубликовано: |
New York, NY : Springer Science+Business,
2006
|
Предметы: |
42
Главные авторы: | , |
---|---|
Формат: | |
Язык: | eng |
Опубликовано: |
New York, NY : Springer Science+Business,
2006
|
Предметы: |