Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents /
42
Huvudupphovsmän: | , |
---|---|
Materialtyp: | |
Språk: | eng |
Publicerad: |
New York, NY : Springer Science+Business,
2006
|
Ämnen: |
42
Huvudupphovsmän: | , |
---|---|
Materialtyp: | |
Språk: | eng |
Publicerad: |
New York, NY : Springer Science+Business,
2006
|
Ämnen: |