Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents /
42
Asıl Yazarlar: | , |
---|---|
Materyal Türü: | |
Dil: | eng |
Baskı/Yayın Bilgisi: |
New York, NY : Springer Science+Business,
2006
|
Konular: |
42
Asıl Yazarlar: | , |
---|---|
Materyal Türü: | |
Dil: | eng |
Baskı/Yayın Bilgisi: |
New York, NY : Springer Science+Business,
2006
|
Konular: |