Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents /

Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents /

42

Бібліографічні деталі
Автори: Foster, A. (Adam Stuart), 1975-, Hofer, Werner, 1960-
Формат:
Мова:eng
Опубліковано: New York, NY : Springer Science+Business, 2006
Предмети:
Scanning probe microscopy

Схожі ресурси