Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents /

Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents /

42

Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính: Foster, A. (Adam Stuart), 1975-, Hofer, Werner, 1960-
Định dạng:
Ngôn ngữ:eng
Được phát hành: New York, NY : Springer Science+Business, 2006
Những chủ đề:
Scanning probe microscopy

Những quyển sách tương tự