Proceedings for 7th Asia Pacific Electron Microscopy Conference, 26-30 June 2000, Singapore International Convention & Exibition Centre, Suntec City, Singapore : perspective imaging

16

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ: Asia Pacific Electron Microscopy Conference (7th : 2000 : Singapore)
Ձևաչափ:
Հրապարակվել է: Skudai : Universiti Teknologi Malaysia, 2000
Խորագրեր: