Built-in self test for phase-locked loop [electronic resource] /

Thesis (Sarjana Kejuruteraan (Komputer dan Sistem Mikroelektronik)) - Universiti Teknologi Malaysia, 2008

Podrobná bibliografie
Hlavní autoři: 391738 Goh, Alvin Shing Chye, Ooi, Chia Yee
Médium:
Jazyk:eng
Vydáno: Skudai : Universiti Teknologi Malaysia, 2008
Témata:
Popis
Shrnutí:Thesis (Sarjana Kejuruteraan (Komputer dan Sistem Mikroelektronik)) - Universiti Teknologi Malaysia, 2008