Metallographic and materialographic specimen preparation, light microscopy, image analysis and hardness testing [electronics resource] /
51
| Päätekijä: | |
|---|---|
| Aineistotyyppi: | |
| Kieli: | eng |
| Julkaistu: |
West Conshohocken, PA : ASTM International,
2007
|
| Aiheet: |